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4.23 S型探测器附加试验
4.23.1 目的
检验S型探测器在低于动作温度下限环境下的稳定性。
4.23.2 方法
4.23.2.1 检查试样在5.2、5.4、5.7和5.8项试验中测得的响应时间是否符合表12规定。
4.23.2.2 按4.1.2规定使试样处于正常监视状态。针对不同类别探测器，在表13规定初始温度环境下稳定后，将试样在10s内按最小响应时间方位放入气流速度为0.8m/s±0.1m/s、温度为表13规定气流温度的试验箱内，保持10min以上，观察并记录试样状态。
检验S型探测器在低于动作温度下限环境下的稳定性。
4.23.2 方法
4.23.2.1 检查试样在5.2、5.4、5.7和5.8项试验中测得的响应时间是否符合表12规定。
4.23.2.2 按4.1.2规定使试样处于正常监视状态。针对不同类别探测器，在表13规定初始温度环境下稳定后，将试样在10s内按最小响应时间方位放入气流速度为0.8m/s±0.1m/s、温度为表13规定气流温度的试验箱内，保持10min以上，观察并记录试样状态。
表12 S型探测器响应时间下限
表13 S型探测器附加试验温度
表13 S型探测器附加试验温度
4.23.3 要求
a) 试样的响应时间不应小于表12规定的响应时间下限值；
b) 试验期间，试样不应发出火灾报警或故障信号。
4.23.4 试验设备
试验设备应满足GB 16838的相关规定。
a) 试样的响应时间不应小于表12规定的响应时间下限值；
b) 试验期间，试样不应发出火灾报警或故障信号。
4.23.4 试验设备
试验设备应满足GB 16838的相关规定。
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- 3.9 控制软件要求
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- 4 要求和试验方法
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- 4.4 响应时间试验
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- 4.17 振动（正弦）（耐久）试验
- 4.18 静电放电抗扰度试验
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- 4.22 浪涌（冲击）抗扰度试验
- 4.23 S型探测器附加试验
- 4.24 R型探测器附加试验
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- 5.1 产品出厂检验
- 5.2 型式检验
- 6 标志
- 6.1 总则
- 6.2 产品标志
- 6.3 质量检验标志
- 附录 A（规范性附录）标准温箱
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