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4.3 动作温度试验
4.3.1 目的
检验探测器在低升温速率条件下，对温度正确响应的能力。
4.3.2 方法
试验用两只试样、一只在最大响应时间方位、另一只在最小响应时间方位上进行。按4.1.5规定，以1℃/min的升温速率升温至表1 规定的相应类别探测器的最高应用温度。然后，以不大于0.2℃/min的升温速率升温至试样动作，记录试样的动作温度。
4.3.3 要求
试样动作温度应在表1规定的动作温度上、下限值之间。
检验探测器在低升温速率条件下，对温度正确响应的能力。
4.3.2 方法
试验用两只试样、一只在最大响应时间方位、另一只在最小响应时间方位上进行。按4.1.5规定，以1℃/min的升温速率升温至表1 规定的相应类别探测器的最高应用温度。然后，以不大于0.2℃/min的升温速率升温至试样动作，记录试样的动作温度。
4.3.3 要求
试样动作温度应在表1规定的动作温度上、下限值之间。
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- 前 言
- 1 范围
- 2 规范性引用文件
- 3 一般要求
- 3.1 总则
- 3.2 分类
- 3.3 感温元件的位置
- 3.4 报警确认灯
- 3.5 辅助设备连接
- 3.6 可拆卸探测器监视
- 3.7 出厂设置改变
- 3.8 现场设置
- 3.9 控制软件要求
- 3.10 使用说明书
- 4 要求和试验方法
- 4.1 总则
- 4.2 方位试验
- 4.3 动作温度试验
- 4.4 响应时间试验
- 4.5 25℃超始响应时间试验
- 4.6 高温响应试验
- 4.7 电源参数波动试验
- 4.8 环境试验前响应时间试验
- 4.9 低温（运行）试验
- 4.10 高温（耐久）试验
- 4.11 交变湿热（运行）试验
- 4.12 恒定湿热（耐久）试验
- 4.13 SO2腐蚀（耐久）试验
- 4.14 冲击（运行）试验
- 4.15 碰撞（运行）试验
- 4.16 振动（正弦）（运行）试验
- 4.17 振动（正弦）（耐久）试验
- 4.18 静电放电抗扰度试验
- 4.19 射频电磁场辐射抗扰度试验
- 4.20 射频场感应传导骚扰抗扰度试验
- 4.21 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验
- 4.22 浪涌（冲击）抗扰度试验
- 4.23 S型探测器附加试验
- 4.24 R型探测器附加试验
- 5 检验规则
- 5.1 产品出厂检验
- 5.2 型式检验
- 6 标志
- 6.1 总则
- 6.2 产品标志
- 6.3 质量检验标志
- 附录 A（规范性附录）标准温箱
-
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